Ultima 超快时间相关单光子计数荧光寿命测试系统-荧光光谱仪-徕卡显微镜-青岛中徕科技有限公司

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Ultima 超快时间相关单光子计数荧光寿命测试系统
TCSPC荧光寿命测试系统,用于测量低至5皮秒的荧光寿命Ultima系列时间相关单光子计数(TCSPC)荧光寿命测试系统,针对短发光寿命的测试而优化设计,可测量低至5皮秒的寿命。专用FluoroHub A+电子设备,提供最佳的电子计时单元分辨(<400fs/点)和超低电子计时单元抖动(<3ps RMS)。
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详细信息

TCSPC荧光寿命测试系统,用于测量低至5皮秒的荧光寿命

Ultima系列时间相关单光子计数(TCSPC)荧光寿命测试系统,针对短发光寿命的测试而优化设计,可测量低至5皮秒的寿命。专用FluoroHub A+电子设备,提供最佳的电子计时单元分辨(<400fs/点)和超低电子计时单元抖动(<3ps RMS)。

事业部: 科学仪器
产品分类: 荧光光谱仪
制造商: HORIBA Scientific

概要:

Ultima - 专为短发光寿命测量而优化的荧光寿命测试系统

皮秒到秒: 专为短发光寿命测量而优化的荧光寿命测试系统

Ultima采用了全新高时间分辨率的TCSPC电子设备、可更换的高脉冲频率光源和检测器技术,以及我们高灵活的、提供超高性能光子计数寿命测量的FluoroCube光学平台。

多种脉冲光源和检测器可选,包括:

  • DeltaDiode皮秒半导体脉冲激光器,波长从370 nm到近红外

  • 皮秒和纳秒LED,波长从260 nm到近红外

  • 钛蓝宝石激光器和多光子选项

  • 高度集成的皮秒光电倍增管模块

  • 微通道板型光电倍增管,提供终极时间分辨率

  • 覆盖紫外线到1700 nm光谱区域

基于我们40TCSPC制造经验,可与我们联系,为您的研究定制完美的荧光寿命测试系统。

Ultima-01(11)-DD

荧光寿命测试系统,配置有发射单色仪(01)或激发与发射单色仪(11)以及半导体激光器

  • 大型样品仓(匹配低温恒温器)

  • 配备循环液体温度控制的样品池支架

  • 自动化激发光路,自动化滤光片架,自动化偏振片底座*::多种多样的可更换半导体激光器和基于LED的激发光源可选。

  • 自动化发射光路, 自动化滤光片架,自动化偏振片底座*

  • 发射单色仪(01,11模式):TDM-800 Seya-Namioka类型,自动化波长驱动(200 nm至800 nm),一体化安全快门与样品舱盖联锁装置,狭缝宽度1至32 nm同步调节

  • 激发单色仪(仅限11模式):Seya-Namioka类型,自动化波长驱动(200 nm至800 nm),一体化安全快门与样品舱盖联锁装置,狭缝宽度1至32 nm同步调节。

  • DeltaDiode脉冲激光控制模块(软件控制)**

  • PPD-650型(230-700纳米波长)专有皮秒光探测模块(与样品舱盖联锁),PPD-850和PPD-900型分别可以将光谱范围扩展至850或920纳米。

  • FluoroHub A+电子计时单元,测量范围皮秒到秒(依赖于激发光源)

  • DataStation测量控制软件和DAS6衰减曲线分析软件

  • 所有线缆和连接件

  • 所供系统置于37 x 70 cm底板上。

*滤光片和偏振片为可选件**DeltaDiodeTM光源需要单独购置

Ultima Ultrafast 01-Ti

超短发光寿命测量系统(5皮秒),配备发射单色仪、外部锁模激光器(钛蓝宝石激光器)和微通道板形光电倍增管检测器。

  • 大型样品仓(匹配低温恒温器)

  • 配备循环液体温度控制设备的样品池支架

  • 自动化激发光路,自动化滤光片架,自动化偏振片底座*::多种多样的可更换半导体激光管和基于LED的激发光源可选。

  • 自动化发射光路, 自动化滤光片架,自动化偏振片底座*

  • 发射单色仪(01,11模式):TDM-800 Seya-Namioka类型,自动化波长驱动(200 nm至800 nm),一体化安全快门与样品舱盖联锁装置,狭缝宽度1至32 nm同步调节

  • 用于外部锁模激光器的激光输入光路**

  • 置于冷却外壳内的R3809-50型微通道板形光电倍增管检测器(与样品舱盖联锁)、紧密耦合的CFD-2G-A 皮秒计时放大器/鉴别器、Fluoro3PS型超稳定高速检测器电源。

  • FluoroHub A+电子计时单元,测量范围皮秒到秒(依赖于激发光源)

  • DataStation测量控制软件和DAS6衰减曲线分析软件

  • 所有线缆和连接件

  • 所供系统置于37 x 70 cm底板上。

*滤光片和偏振片为可选件**不包含激光器

Ultima Ultrafast 01-DD

短发光寿命测试系统,附带发射单色器、可更换的DeltaDiode半导体脉冲激光器和微通道板形光电倍增管探测器。

  • 大型样品仓(匹配低温恒温器)

  • 配备循环液体温度控制设备的样品池支架

  • 自动化激发光路,自动化滤光片架,自动化偏振片底座*::多种多样的可更换半导体激光管和基于LED的激发光源可选。

  • 自动化发射光路, 自动化滤光片架,自动化偏振片底座*

  • 发射单色仪(01,11模式):TDM-800 Seya-Namioka类型,自动化波长驱动(200 nm至800 nm),一体化安全快门与样品舱盖联锁装置,狭缝宽度1至32 nm同步调节

  • DeltaDiode脉冲激光管模块(软件控制)**

  • 置于冷却外壳内的R3809-50型微通道板形光电倍增管探测器(与样品舱盖联锁)、紧密耦合的CFD-2G-A 皮秒计时放大器/鉴别器、Fluoro3PS型超稳定高速检测器电源。

  • FluoroHub A+电子计时单元,测量范围皮秒到秒(依赖于激发光源)

  • DataStation测量控制软件和DAS6衰减曲线分析软件

  • 所有线缆和连接件

  • 所供系统置于37 x 70 cm底板上。

*滤光片和自动化偏振片为可选件**DeltaDiode光源需单独购买

配置:

Ultima 系统参数 

  • 最短发光寿命:5ps(使用飞秒激光和微通道板形光电倍增管检测器)

  • 测试时间窗口:5ns-22s

  • 电子时间分辨率(time/pt): <400fs

  • 计时单元抖动:<10ps FWHM (<3ps RMS)

  • 最大重复率:20MHz(推荐)

  • 最大通道数:16k

  • 磷光分辨率:42ns/pt

  • 接口:USB 2.0

应用:

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