兼具高性能和灵活性的荧光寿命测试系统，可利用时间相关单光子技术（TCSPC）测试方法，快速有效地采集荧光寿命数据

DeltaFlex 全自动模块化荧光寿命光谱仪是我们的Delta系列新一代时间相关单光子计数荧光寿命测试仪器之一，其可提供最大的灵活性。

该系统可实现跨越11个数量级的发光寿命测试，且无需更换线缆或板卡。其核心是DeltaHub电子计时设备，它提供几乎无损的计数，能够实现从25ps到1s时间范围的寿命测试。DeltaFlex由HORIBA高脉冲频率光源、高灵敏度探测器及超低死时间的电子计时单元组成，能够快速、高效地采集荧光寿命数据。

全新的F-Link总线设计使得模块化简单易行，系统能够自动检测到添加到仪器中的任意组件，并且可以实现控制软件自动控制。

随着生物探针和光伏等应用领域逐渐扩展到近红外区域，因此实现近红外区域的时间分辨测试非常重要。DeltaFlex可与多种近红外探测器结合，为近红外时间分辨测试提供解决方案。

DeltaFlex系统由可替换的DeltaDiode激发光源、DeltaHub电子计时单元和PPD皮秒检测器组成。可通过增加激发和发射单色仪实现波长选择，从而可实现时间分辨荧光光谱（TRES）等的全光谱寿命采集。TDM-800 单色仪可提供低时间色散。系统配备带有数字温度传感器和磁力搅拌器的样品架。

我们还提供DeltaDiode短寿命测试光源，SpectraLED长寿命测试脉冲光源、单色仪和珀耳帖温度控制等众多附件。DeltaFlex可以通过F-Link光谱仪总线轻松升级以及自动控制等。

下面视频中显示的是配有H10330系列检测器和SpectraLED 脉冲激发光源的DeltaFlex-NIR-H光学系统。

光谱仪 - DeltaDiode 脉冲光源视频 (1:03)

概要：

• 高脉冲频率激光光源和PPD检测器可实现低至25ps的荧光寿命测量

• 每秒高达1000次的时间相关单光子计数（TCSPC）测量技术，非常适合动力学研究

• 搭配单色仪实现波长选择

• 覆盖紫外到近红外波长范围的DeltaDiodes脉冲激发光源可供选择。有关完整详细信息请参阅 DeltaDiode页面

• SpectraLED光源可用于获取更长的发光寿命（微秒到秒），且提供紫外到近红外波长范围光源选择

• 可升级到基于单色仪的NIR系统（DeltaFlex-NIR-H或DeltaFlex-NIR-R）

• 通过F-Link模块轻松添加附件

• 综合软件包

• 测量模式

• 荧光寿命25ps到1s

• 动态时间相关单光子计数（TCSPC）方法，可连续测量1毫秒内1~10000次衰减，直到1 分钟内1次衰减。

• 各向异性测试， 解卷积以分辨更短的旋转相关时间

• 时间分辨发射光谱 (TRES)，可一次采集多达100个波长的寿命衰减曲线

• 稳态光谱测量

配置：

DeltaFlex 系统

**使用DeltaDiode光源和PPD探测器，不适用线缆

DeltaFlex-NIR升级系统

* 依赖于样品和系统配置

参数和外观改变无需另行通知

应用：

下载中心：

2.76 MB

Delta Series Brochure

0.92 MB

DeltaFlex Specification Sheet

0.88 MB

Hybrid Picosecond Photon Detector (HPPD) TechNote PDF