制造商: HORIBA Scientific

概要：

A-TEEM荧光光谱仪与传统PMT扫描光谱仪

传统的扫描式荧光分光光度计以采集荧光激发发射三维矩阵(EEM)的形式来获得分子指纹图谱，也被称为3D荧光光谱。EEM是荧光强度随荧光激发波长、荧光发射波长变化而变化的三维数据集。传统扫描式荧光光谱仪是通过在不同激发波长下顺序扫描一系列发射光谱来获得的，然后将数据集进行三维重建。该三维数据集可利用第三方多元分析软件进行成分分析，也可与其他分析技术如FTIR、HPLC和MS一起使用。许多已发表的科学论文引用了传统扫描式荧光分光光度计获得的EEM数据进行成分分析的结果，包括食品科学、水环境和制药等众多科学应用领域。

然而，使用传统扫描式PMT荧光光谱仪进行EEM成分研究时有两个局限性。首先，用扫描式荧光光谱仪采集单个EEM需要很长时间。根据信号强弱，以及所需的波长范围和分辨率不同而有所区别。有时单个EEM实验需要扫描式荧光光谱仪长达一小时的时间的采集时间!

扫描式荧光光谱仪的另一个重要限制是，所获得的EEM指纹图谱的形状会随着样品浓度的细微变化而变化。若仪器测量同一分子不同浓度下的EEM指纹图谱时获得不同结果，那么它就不能用于成分分析。EEM若作为一种分析技术，其谱图的形状必须与浓度无关。

扫描式荧光光谱仪的局限性限制了荧光EEM技术的可用性，从而促使HORIBA开发了A-TEEM技术。

HORIBA独特的A-TEEM技术克服了这两个局限性。通过CCD检测技术，HORIBA解决了扫描式荧光光谱仪的速度限制，通过HORIBA的CCD采集技术，单个荧光EEM可以在几秒到几分钟内获得。

Figure 1. Three dimensional contour plot viewed at an angle of a fluorescence EEM, with three dimensional axis for fluorescence excitation, emission and intensity.

Figure 2. Contour plot (top down view) of fluorescence EEM of fluorescein acquired in one second with Duetta.

其次，HORIBA利用A-TEEM技术在采集荧光的同时也采集同一样品的吸光度这一事实，解决了荧光内滤效应相关的问题，并获得利用吸光度来校正内滤效应(IFE)的EEMs。

HORIBA将这种技术称为A-TEEMTM，即吸收-透射激发发射三维矩阵。通过校正内滤效应，A-TEEM分子指纹图谱更准确的代表了真实的分子指纹图谱。因此，当使用第三方多元化学计量学分析软件分析时，A-TEEM数据提供的成分分析比扫描式荧光光谱仪的简单EEM数据更可靠。

下面是一个很好的例子，说明单个分子中即使是很小的浓度差异，也会对EEM指纹图谱的形状产生显著影响，但通过适当的IFE校正，A-TEEM指纹图谱则不随浓度的改变而改变。

Figure 3. Fluorescence Excitation Emission Matrices of two concentrations of quinine sulfate in tonic water diluted in 0.1 M perchloric acid (aq.) with and without inner-filter effect corrections applied. Acquired with HORIBA Duetta.

本文介绍的Aqualog A-TEEM数据的化学计量学分析方法使用Eigenvector Research Incorporated公司的Solo软件。

Additional Resources

USGS Procedures for using the Horiba Scientific Aqualog® fluorometer to measure absorbance and fluorescence from dissolved organic matter https://pubs.er.usgs.gov/publication/ofr20181096

Aqualog CDOM Publication Links

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硬件特点

• 先进设计的同时测定紫外吸收和荧光的光谱仪

• TE 制冷背照式 CCD 荧光检测器，获取数据速度比其它仪器快百倍

• 校正的 UV-Vis 吸收检测光路，提高了吸收信号的稳定性和准确性

• 双级激发单色仪，有效消除杂散光

• 相互匹配的吸收、荧光光谱带宽

• 自动样品切换 (2 和 4 位置 )

• 可加载流通池和滴定仪

软件特点

• 优化的实验设置菜单，减少参数设置时间

• 自动完成全套 NIST 溯源校正荧光光谱 

• 吸收和荧光数据的光谱分析及动力学分析工具

• 大批量样品的自动测定批处理方法

全新A-TEEM™技术

A-TEEM技术利用吸光度、透过率和EEM数据，以600万纳米/分钟的发射扫描速度，对分子进行高特异性和超高灵敏度的指纹识别!

众所周知，有色分子会表现出独特的分子吸收光谱和透射光谱，同时，许多有色分子还表现出独特的荧光激发和发射光谱，可以使用激发-发射三维矩阵（EEM）进行检测。全新A-TEEM技术可同时结合吸收-透射和EEM数据，今儿提供独特的分子指纹，因此具有许多潜在的应用。

Aqualog将比传统的基于PMT的荧光光谱仪快4000倍的超高速CCD检测与HORIBA 全新A-TEEM技术相结合，您可以在几分钟内轻松有效地识别、量化和了解复杂混合物中的单个有机化合物。A-TEEM已经在在蛋白质、疫苗、葡萄酒和水的研究、质量和工艺应用等众多情况下被证明比HPLC和振动光谱法更简便有效。

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特点

• 与Aqualog无缝集成

• 友好的HTML交互界面

• 向导式操作方式

• 分级式控件用于校正和方法开发

优势

• 通过互联网或企内部网实现登录访问

• 实时数据显示，时间序列表格用于趋势研究及分析

• WTP可进行独立的数据上传

Aqualog Datastream Dashboard is powered by Solo_Predictor software from Eigenvector Research, Incorporated

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作为Aqualog® A-TEEM™荧光光谱仪的全新附件，Aqualog自动进样器附件可搭配四通道附件，它设置有四个取样通道，此外还设有清洗液，洗涤剂以及排水等通道，可完成四个来源的样品自动进样操作。

自动进样器操作方便，内置自动清洗、泄漏检测和保护功能。 它集成到Aqualog 4.0全新一代软件中进行批量分析，在水、制药、饮料酚类和许多其他应用领域中具有多种用途。

在水处理厂使用时，自动进样器和四通道附件使Aqualog能够自动提取和监测原水、沉淀水和成品水三个关键来源水。每个进样器单元与溢流和过滤等装置兼容，最多可为4个独立的水处理厂水源提供服务。

Fast-01可以位满足您的应用需求配置使用各种样品瓶和样品架并可以实现完整的温度控制。使用 Aqualog 4.2+ 软件可轻松控制样品瓶重复进样次数和进样量，该软件还提供预配置的空白文件。

所有数据文件都可以导出带有ISO格式的时间日期戳，用户可配置的样品 ID 和重复代码。

Fast-01 硬件控制的所有方面都触手可及，具有关键的实时访问功能，可促进批量实验的配置和执行，以及启动、清洁和维护。

配置：

应用：

下载中心：

0.89 MB

Fast-01 Autosampler Spec Sheet

1.44 MB

Aqualog Sipper Specification Sheet PDF

1.83 MB

A-TEEM分子指纹图谱