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徕卡正置显微镜

高产能 8

高产能 8" 检查及缺陷分析系统 - Leica DM8000

徕卡 DM8000 M 提供了全新的光学设计,如理想的宏观检查模式 或者倾斜紫外光 (OUV 随检UV 选择) 不但提高了分辨能力,同时也增加了观察 8’’/200 毫米直径大样品 时的产量。... 【详情】
徕卡DM12000M工业显微镜Leica DM12000 M

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徕卡DCM8光学表面测量系统 Leica DCM8

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徕卡DCM8采用了最新的非接触式三维光学表面测量技术。设计用于提高您的工作效率,它是一款融合了高清晰度共聚焦显微镜和干涉测量技术优点的多功能双核系统。... 【详情】
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